產品詳情
三維掃描儀抄數機逆向工程儀器設備主要應用在三維掃描、三維抄數、實物建模、逆向工程、尺寸對比檢測
系統介紹
XTOM-ET工業級高精度三維掃描儀（抄數機）基于雙目立體視覺原理，采用外差式多頻相移三維光學測量技術，單幅測量幅面大小（從30毫米到1米）、測量精度、測量速度等性能都達到工業實物逆向建模及尺寸對比檢測的需要，與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度更高，單次測量幅面更大、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小，而且能夠測量表面劇烈變化的工件，可以掃描測量幾毫米到幾十米的工件和物體。
應用方向
行業
汽車行業、航空航天、機械制造、文物修復、家具制造、醫療保健等??
逆向設計
快速獲取被測物體表面三維數據，建立物體三維模型，優化產品設計/還原設計圖
產品檢測
檢測范圍包括：產品點、線、面之間角度、距離、對稱度及位置度等關系：對比標準共建或設計圖分析產品尺寸、角度、厚度及位置偏差等：對比產品使用前后數據分析產品使用損耗，分析產品性能及壽命等。可檢測鑄件、鍛件、沖壓件、模具、注塑件、木制品等。
技術參數
常規標準型
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型號 |
XTOM-TC |
XTOM-ED-I |
XTOM-ED-II |
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測量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
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相機像素 |
2*130w |
2*130w |
4*230w |
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測量精度(mm) |
0.04 |
0.025/0.03 |
0.025~0.03 |
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采樣點距(mm) |
0.15/0.3 |
0.1/0.2 |
0.1~0.2 |
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標準測距(mm) |
350/850 |
450/850 |
450/850 |
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掃描時間(s) |
2~4 |
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掃描光源 |
藍/白 |
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拼接方式 |
標志點/特征/手動 |
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高端工業型
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型號 |
XTOM-ET-I |
XTOM-ET-II |
XTOM-ET-III |
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測量幅面(mm) |
200*150/400*300 |
200*150/400*300 |
800*600 |
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相機像素 |
2*230w |
2*500w |
2*500w |
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測量精度(mm) |
0.02/0.025 |
0.01/0.015 |
0.03 |
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采樣點距(mm) |
0.1/0.2 |
0.08/0.15 |
0.3 |
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標準測距(mm) |
450/850 |
450/850 |
1600 |
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掃描時間(s) |
2~8 |
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掃描光源 |
藍/白 |
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拼接方式 |
標志點/特征/手動 |
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備注：高端工業型CCD支持升級600萬/900萬，支持依據客戶需求定制。
