在設(shè)計過程中，可以使用有限元建模73來比較不同的方法和設(shè)計備選方案，盡管在每個設(shè)計中進(jìn)行實(shí)驗(yàn)研究可能并不容易，并且實(shí)驗(yàn)研究也可能有其局限性，但是不應(yīng)忽略實(shí)驗(yàn)的必要性，尤其是在復(fù)雜的設(shè)計中，74第5章方程部分(下一個)分析模型在本章中。
法國CILAS粒徑儀故障維修可檢測
當(dāng)你的儀器出現(xiàn)如下故障時，如顯示屏不亮、示值偏大、數(shù)據(jù)不準(zhǔn)、測不準(zhǔn)、按鍵失靈、指針不動、指針抖動、測試數(shù)據(jù)偏大、測試數(shù)據(jù)偏小,不能開機(jī)，不顯示等故障，不要慌，找凌科自動化，技術(shù)維修經(jīng)驗(yàn)豐富，維修后有質(zhì)保，維修速度快。

如果堆疊的微孔結(jié)構(gòu)使用非銅填充材料，則通孔需要鍍有導(dǎo)電蓋，銅帽產(chǎn)生兩個次要問題，a)電解銅與填充材料之間的粘合強(qiáng)度低，b)與傳統(tǒng)銅箔相比，鍍銅的延展性，伸長率，拉伸強(qiáng)度和剝離強(qiáng)度較低，的微孔錯誤配準(zhǔn)–單層結(jié)構(gòu)存在兩種類型的微孔錯誤配準(zhǔn),a)到捕獲墊的消融孔。 計算機(jī):家用臺式PC，工作站，筆記本電腦和衛(wèi)星導(dǎo)航的核心是PCB，大多數(shù)帶有屏幕的設(shè)備和外圍設(shè)備中也都裝有儀器維修，娛樂系統(tǒng):您的電視，立體聲音響，DVD播放器和游戲機(jī)將以儀器維修，家用電器:幾乎所有現(xiàn)代家用電器都使用電子組件。
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(1)加載指示燈和測量顯微鏡燈不亮
先檢查電源是否連接好，然后檢查開關(guān)、燈泡等，如果排除這些因素后仍不亮，則需要檢查負(fù)載是否完全施加或開關(guān)是否正常。如果排除后仍不正常，就要從線路（電路）入手，逐步排查。

(2)測量顯微鏡渾濁，壓痕不可見或不清晰
這應(yīng)該從調(diào)整顯微鏡的焦距和光線開始。若調(diào)整后仍不清楚，應(yīng)分別旋轉(zhuǎn)物鏡和目鏡，并分別移動鏡內(nèi)虛線、實(shí)線、劃線的三個平面鏡。仔細(xì)觀察問題出在哪一面鏡子上，然后拆下，用長纖維脫脂棉蘸無水酒精清洗，安裝后按相反順序觀察，然后送修或更換千分尺。
這些參數(shù)直接影響安裝在PCB上的電子組件的疲勞壽命，圖7.圖7.1顯示了影響組件使用壽命的因素，※n§代表施加的應(yīng)力循環(huán)數(shù)，而※N§代表SN曲線中在應(yīng)力水下失效的循環(huán)數(shù)※S§，141在本章中，將單獨(dú)研究軸向引線電容器[76]中影響組件疲勞壽命的圖7.1中代表的一些參數(shù)。 焊盤，鍍通孔)之間絕緣電阻的損失[36]，電化學(xué)遷移的速度有四個先決條件:活動金屬，電壓梯度，連續(xù)膜和可溶性離子[79]，ECM的發(fā)生是由于金屬離子在陽處溶解到介質(zhì)中，并在陰處以針狀或樹狀樹枝狀沉積出來。

(3)當(dāng)壓痕不在視野范圍內(nèi)或輕微旋轉(zhuǎn)工作臺時，壓痕位置變化較大
造成這種情況的原因是壓頭、測量顯微鏡和工作臺的軸線不同。由于滑枕固定在工作軸底部，因此應(yīng)按下列順序進(jìn)行調(diào)整。
①調(diào)整主軸下端間隙，保證導(dǎo)向座下端面不直接接觸主軸錐面；
②調(diào)整轉(zhuǎn)軸側(cè)面的螺釘，使工作軸與主軸處于同一中心。調(diào)整完畢后，在試塊上壓出一個壓痕，在顯微鏡下觀察其位置，并記錄；
③輕輕旋轉(zhuǎn)工作臺（保證試塊在工作臺上不移動），在顯微鏡下找出試塊上不旋轉(zhuǎn)的點(diǎn)，即為工作臺的軸線；
④ 稍微松開升降螺桿壓板上的螺絲和底部螺桿，輕輕移動整個升降螺桿，使工作臺軸線與測量顯微鏡上記錄的壓痕位置重合，然后擰緊升降螺桿。壓板螺釘和調(diào)節(jié)螺釘壓出一個壓痕并相互對比。重復(fù)以上步驟，直至完全重合。

(4)檢定中示值超差的原因及解決方法
①測量顯微鏡的刻度不準(zhǔn)確。用標(biāo)準(zhǔn)千分尺檢查。如果沒有，可以修理或更換。
②金剛石壓頭有缺陷。用80倍體視顯微鏡觀察是否符合金剛石壓頭檢定規(guī)程的要求。如果存在缺陷，請更換柱塞。
③ 若負(fù)載超過規(guī)定要求或負(fù)載不穩(wěn)定，可用三級標(biāo)準(zhǔn)小負(fù)載測功機(jī)檢查。如果負(fù)載超過要求（±1.0%）但方向相同，則杠桿比發(fā)生變化。松開主軸保護(hù)帽，轉(zhuǎn)動動力點(diǎn)觸點(diǎn)，調(diào)整負(fù)載（杠桿比），調(diào)整后固定。若負(fù)載不穩(wěn)定，可能是受力點(diǎn)葉片鈍、支點(diǎn)處鋼球磨損、工作軸與主軸不同心、工作軸內(nèi)摩擦力大等原因造成。 。此時應(yīng)檢查刀片和鋼球，如有鈍或磨損，應(yīng)修理或更換。檢查工作軸并清潔。注意軸周圍鋼球的匹配。
電導(dǎo)率也高16倍，如表18所示，由于吸濕率和電導(dǎo)率是本文確定的關(guān)鍵因素，粉塵4對粉塵的影響小，阻抗損失，金屬遷移和腐蝕故障，實(shí)驗(yàn)結(jié)果與這一觀察結(jié)果一致，在RH測試中，當(dāng)RH升高到90%時，阻抗下降到閾值以下。 因?yàn)檫@有可能導(dǎo)致巨額費(fèi)用，聲譽(yù)和市場份額的損失，對于復(fù)雜的產(chǎn)品，測試可能很耗時，并且成本幾乎與其余產(chǎn)品相同，進(jìn)行檢測所有可能的故障的測試仍然不切實(shí)際，測試有效性描述為:電子元器件，包裝和生產(chǎn)其中:DL=缺陷水:包含故障。

其中有許多集成電路，應(yīng)使用電源面（Vcc或gnd）來避免電源軌的過多布線。換句話說，直接連接到芯片下方的電源層更容易且更安全，而不是為PDS（電源傳輸系統(tǒng)）布線較長的走線（這也可以通過通孔實(shí)現(xiàn)）。此外，有時必須以小的通孔高度將信號走線從外層（頂層或底層）路由到內(nèi)層，因?yàn)樗赡軙洚?dāng)短截線并可能產(chǎn)生阻抗失配。這可能引起反射并產(chǎn)生信號完整性問題（在以后的文章中將對此進(jìn)行更多討論）。對于這些類型的互連，使用盲孔，它允許以小的通孔高度從外層到內(nèi)層進(jìn)行連接。盲孔始于外部層，終止于內(nèi)部層，這就是為什么它具有前綴“blind”的原因。要知道某個通孔是否是盲孔，可以將PCB放在光源上，看看是否可以通過通孔看到來自光源的光。

這項(xiàng)研究提供了一種可重復(fù)的通用測試方法，可用于評估兩種故障機(jī)理的粉塵，基于本文的結(jié)果，可以開發(fā)一種評估粉塵對電子可靠性的影響的方法，以用于電子工業(yè)，推薦的可靠性評估方法如57所示，使用試驗(yàn)設(shè)計確定并配制了標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)粉塵的成分。 該信息將使在不遭受電路故障的情況下大化組件的使用壽命成為可能，該報告提出了許多特定的技術(shù)，用于提高監(jiān)視電路和儀器維修組件中可能導(dǎo)致儀器維修故障的老化引起的變化的能力，一些討論了在電子儀器維修監(jiān)控之外的應(yīng)用中已使用的有前途的技術(shù)。 用裸眼或低倍光學(xué)顯微鏡在I&C板上進(jìn)行的檢查可以檢測表面缺陷，例如毛刺，空隙，劃痕，劃痕和鑿(EPRI2002)，可以快速識別它們并將其與標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較，阻焊層材料的檢查涉及調(diào)查起泡，分層，氣泡和厚度，通常可以從外部外觀檢查中發(fā)現(xiàn)一些表面缺陷。 例如電阻值或電容器值變化，Huntrons檢查單個組件，組件分組，整個電路，以查看我們是否具有良好的組件簽名，該簽名與良好工作板上數(shù)據(jù)庫中的已知良好簽名相對應(yīng)，并檢查響應(yīng)以確保其沒有施加電壓和頻率時不會擊穿。 藍(lán)色標(biāo)識符表示放置在PCB上的微型加速度計，用于將測試數(shù)據(jù)輸入到仿真中，1+Z-Z(a)342(b)圖6.透射率測試中使用的加速度計位置a)-夾具b)-PCB131圖6.CirVibe中用于透射率和加速的PowerPCB仿真模型壽命(小完整性測試)前三種模式的共振透射率是從透射率測試中獲得的。

處理不同材料的兼容性不僅簡化了生產(chǎn)，而且還確保了用于電連接多層電路結(jié)構(gòu)中不同電路層的鍍通孔（PTH）的可靠性。具有RO4360層壓板的多層電路中那些PTH的可靠性還得益于z軸上出色的CTE材料（30PPM/oC），并且與銅的匹配性非常好，從而在整個工作范圍內(nèi)將連接和電路的應(yīng)力降至低溫度。與需要特殊處理措施的填充PTFE基材料相比，RO4360層壓板與用于FR-4材料的標(biāo)準(zhǔn)PCB處理方法兼容。它們具有高于+280oC的高玻璃化轉(zhuǎn)變溫度（Tg），以確保處理高工藝溫度。除了使其在制造RF/微波帶通濾波器方面具有吸引力的電氣和機(jī)械特性外，它們還環(huán)保且符合RoHS要求。對于那些通帶損耗稍高，電路尺寸稍大（與某些填充PTFE材料相比）的帶通濾波器應(yīng)用。

但是這樣做可以在復(fù)雜系統(tǒng)上提供溫度場[3]。數(shù)值解決方案可以處理實(shí)際設(shè)備中固有的復(fù)雜性，但只能在空間和時間的選定離散點(diǎn)上進(jìn)行，這受可用計算存儲量和時間的限制[2，4]，測量和計算都無法提供準(zhǔn)確的結(jié)果。正如測量會引入隨機(jī)和系統(tǒng)的不確定性一樣，數(shù)值方法也會引入由于截斷和不完整的物理現(xiàn)象而引起的誤差。在數(shù)值方法中，分析人員必須解決驗(yàn)證問題，該問題涉及數(shù)值引擎的自洽性以及驗(yàn)證，它評估了計算代碼的預(yù)測與設(shè)計代碼建模的物理現(xiàn)實(shí)之間的差異[5]。驗(yàn)證數(shù)字代碼或驗(yàn)證其結(jié)果是不夠的。相反，必須同時執(zhí)行驗(yàn)證和確認(rèn)，并且必須以該順序執(zhí)行，因?yàn)槲唇?jīng)驗(yàn)證的代碼在某些情況下可能會產(chǎn)生“看起來正確”的結(jié)果。驗(yàn)證可以評估數(shù)值方法的準(zhǔn)確性。

法國CILAS粒徑儀故障維修可檢測根據(jù)經(jīng)驗(yàn)確定，良好的ESS篩選器將以不同的速率循環(huán)應(yīng)用各種溫度達(dá)特定次數(shù)，并在不同溫度下保持時間。但是，可以將定制的ESS屏幕設(shè)計為反映組件必須在其中運(yùn)行的操作環(huán)境。在ESS中，快速使產(chǎn)品經(jīng)受非常高和非常低的溫度會加速故障機(jī)制。由于所用材料的熱膨脹系數(shù)不同，快速的溫度變化會在產(chǎn)品中產(chǎn)生應(yīng)力。另外，它會觸發(fā)與溫度有關(guān)的故障機(jī)制。在10°C至70°C之間，溫度變化速率約為每分鐘5°C至10°C，在每個溫度限下的停留時間約為30分鐘。組件級篩選方法在符合在高可靠性系統(tǒng)中使用之前，組件要經(jīng)過三種主要類型的測試：環(huán)境，物理和電氣特性。廣泛使用的MIL-STD202F概述了所涉及的測試程序。對于電子元件。  kjbaeedfwerfws