產品詳情
Advantes愛德萬Q8344A 光譜分析儀
附加功能：
350 納米至 1750 納米
邁克爾遜干涉儀類型測量
直接相干長度測量
快速掃描
Advantest Q8344A 使用基于邁克爾遜干涉儀的傅立葉頻譜分析方法。因此，Q8344A 可以測量使用單色器進行測量的衍射型光譜分析儀無法直接獲得的光學相干性。
Q8344A是一臺測試波長范圍0.35 - 1.75 μm的光譜分析儀。由于它使用了傅立葉光譜系統，并帶有麥克爾遜干涉儀，因此它能測量相干光。
而這是采用單色光儀的色散光譜系統所不能達到的。這些特點使得Q8344A非常適合在諸如CD、VCD及其他領域中所使用的激光二極管等光學器件的測試。
內置He-Ne激光器作為標準波長，從而達到了± 0.1 nm (1.3 μm)的波長精度，在沒有波長校正也能確保長期的測試穩定性。
Q8344A采用傅立葉頻譜系統因而對任何的測量跨度和靈敏度都可以在1.5秒內完成測量。（提供起始波長是0.4|m或更長并且測量不能同時覆蓋短的波長和長波長）。
因此分析儀適合于測量生產線上的激光二極管和LED并且可以評估光纖和濾波器的傳輸和損耗的特征。
當作為系統組成部分時分析儀只需要1.5秒就可以完成觸發測量和數據輸出。
0.05nm的波長范圍在短波長（0.85|m）時Q8344A提供0.05nm的分辨率使它可以以全分解振蕩模式依次對CD和可視光激光二極管進行測量。
大量規光纖輸出選件 200|m大量輸出可以作為選件使用。當分析波長大于標準光纖量規（GI50|m）的裝置時可選用此選件。
對激光二極管分析推薦標準50-|m規格對LED分析推薦選用規格。
附加功能：
350 納米至 1750 納米
邁克爾遜干涉儀類型測量
直接相干長度測量
快速掃描
Advantest Q8344A 使用基于邁克爾遜干涉儀的傅立葉頻譜分析方法。因此，Q8344A 可以測量使用單色器進行測量的衍射型光譜分析儀無法直接獲得的光學相干性。
Q8344A是一臺測試波長范圍0.35 - 1.75 μm的光譜分析儀。由于它使用了傅立葉光譜系統，并帶有麥克爾遜干涉儀，因此它能測量相干光。
而這是采用單色光儀的色散光譜系統所不能達到的。這些特點使得Q8344A非常適合在諸如CD、VCD及其他領域中所使用的激光二極管等光學器件的測試。
內置He-Ne激光器作為標準波長，從而達到了± 0.1 nm (1.3 μm)的波長精度，在沒有波長校正也能確保長期的測試穩定性。
Q8344A采用傅立葉頻譜系統因而對任何的測量跨度和靈敏度都可以在1.5秒內完成測量。（提供起始波長是0.4|m或更長并且測量不能同時覆蓋短的波長和長波長）。
因此分析儀適合于測量生產線上的激光二極管和LED并且可以評估光纖和濾波器的傳輸和損耗的特征。
當作為系統組成部分時分析儀只需要1.5秒就可以完成觸發測量和數據輸出。
0.05nm的波長范圍在短波長（0.85|m）時Q8344A提供0.05nm的分辨率使它可以以全分解振蕩模式依次對CD和可視光激光二極管進行測量。
大量規光纖輸出選件 200|m大量輸出可以作為選件使用。當分析波長大于標準光纖量規（GI50|m）的裝置時可選用此選件。
對激光二極管分析推薦標準50-|m規格對LED分析推薦選用規格。
需要可以在網頁上搜索《深圳市寶安區沙井方豐瑞儀器設備經營部》可找到我們哦~
鄧：135-1015-2816（v同）
彭：158-1859-4082（v同）
