產(chǎn)品詳情
儀器簡介：
可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的高級(jí)超聲測(cè)厚儀
易懂易學(xué)、操作簡便，集所有解決方案于一機(jī)
45MG儀器可以測(cè)量材料的聲速。
差值模式和縮減率模式是45MG的標(biāo)準(zhǔn)功能。
超聲波測(cè)厚儀的所有用戶必須遵守以下操作步驟，以盡量減少測(cè)試結(jié)果中的誤差。
1.聲速的校準(zhǔn)超聲波測(cè)厚儀的操作原理是儀器測(cè)量超聲脈沖穿過測(cè)試片的飛行時(shí)間，并將此時(shí)間乘以材料中的聲速。通過確保儀器校準(zhǔn)的聲速是被測(cè)試材料的聲速，可以將厚度測(cè)量誤差降至最低。材料中的實(shí)際聲速通常與已發(fā)表的數(shù)值中發(fā)現(xiàn)的值有很大不同。在所有情況下，如果儀器在與測(cè)試件相同的材料制成的速度參考?jí)K上校準(zhǔn)，則可獲得最佳結(jié)果;該塊應(yīng)該是平坦的，平滑的，和測(cè)試件的最大厚度一樣厚。操作者還應(yīng)該意識(shí)到，被測(cè)材料的聲速可能不是恒定的;例如，熱處理可能導(dǎo)致聲速的顯著變化。在評(píng)估本儀器提供的厚度精度時(shí)，必須考慮這一點(diǎn)。儀器在測(cè)試前應(yīng)始終進(jìn)行校準(zhǔn)，并在測(cè)試后進(jìn)行校準(zhǔn)，以最大限度地減少測(cè)試誤差。
2.探頭零程序在使用接觸式探頭進(jìn)行校準(zhǔn)之前，必須首先執(zhí)行探頭零程序。如果沒有執(zhí)行零程序或者執(zhí)行不正確，則會(huì)導(dǎo)致不準(zhǔn)確的厚度讀數(shù)。
3.溫度對(duì)校準(zhǔn)的影響溫度變化會(huì)改變材料和傳感器延遲線的聲速，因此校準(zhǔn)。所有校準(zhǔn)應(yīng)在現(xiàn)場(chǎng)執(zhí)行，測(cè)試塊在與測(cè)試件相同的溫度下進(jìn)行，以最大限度地減少溫度變化引起的誤差。
4.傳感器選擇測(cè)試中使用的傳感器必須處于良好狀態(tài)，而不會(huì)使表面發(fā)生明顯的磨損。傳感器損壞的傳感器將有效降低測(cè)量范圍。傳感器的指定范圍必須包括要測(cè)試的厚度的完整范圍。要測(cè)試的材料的溫度必須在傳感器的溫度范圍內(nèi)。
使用內(nèi)置MicroSD存儲(chǔ)卡和可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡的存儲(chǔ)方式。
彩色透反QVGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置，具有極佳的清晰度。
與所有Olympus雙晶探頭兼容，可對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進(jìn)行測(cè)量。
45MG還可存儲(chǔ)最多35個(gè)自定義單晶探頭的設(shè)置，其中還包括校準(zhǔn)信息。
高穿透軟件選項(xiàng)可以對(duì)很多鑄造金屬部件及聲波衰減性極強(qiáng)的材料進(jìn)行測(cè)量。
儀器校準(zhǔn):
我們建議我們的大多數(shù)產(chǎn)品年度校準(zhǔn)。雖然大多數(shù)校準(zhǔn)服務(wù)只提供系統(tǒng)性能的基本驗(yàn)證，我們的服務(wù)中心使用先進(jìn)的技術(shù)來校準(zhǔn)我們的儀器。奧林巴斯技術(shù)人員利用專用測(cè)試臺(tái)訪問設(shè)備內(nèi)部校準(zhǔn)電路進(jìn)行校準(zhǔn)。其他的校準(zhǔn)服務(wù)沒有這個(gè)技術(shù).
