近日，上海交通大學電子信息與電氣工程學院、北京大學集成電路學院聯合概倫電子正式發布新一代高精度快速波形發生與測量套件fs-pro hp-fwgmk，通過校企深度合作填補了國產半導體參數測試系統在短脈沖測試（piv）的空缺，為國內產學研深度合作樹立了新的標桿。
該項研究成果由黃如院士領銜的北京大學、上海交通大學團隊和概倫電子聯合研發。作為短脈沖iv(piv)測試技術的先行者，黃如院士帶領團隊探索出一整套短脈沖產生、測量以及分析技術。其中，由黃如院士帶領的上海交大電院紀志罡教授研究小組在短脈沖捕捉電路架構和信號處理算法方面的突破，保障了系統的高精度。概倫電子基于黃如院士聯合團隊提供的包括測試方法、電路原型、方案框架、版圖設計及piv應用在內的指導意見繼續精細開發，最終實現了最小脈寬130ns的高精度測量。
上海在先進器件研究過程中，新材料、新結構與新工藝的應用都可能帶來未知的變化。研究者不但要關注精確的靜態電流電壓特性，更希望觀察到細微快速的動態行為。同時隨著半導體尺寸不斷減小，一些現象需要在極短的時間內才能觀察到，例如先進工藝下的mos器件的bti效應，新興存儲器件如鐵電器件的瞬時反轉特性等。基于短脈沖的測試則為該類研究奠定了堅實的基礎。
作者：
電子信息與電氣工程學院
供稿單位：
電子信息與電氣工程學院
特別聲明：以上內容(如有圖片或視頻亦包括在內)為自媒體平臺“機電號”用戶上傳并發布，本平臺僅提供信息存儲服務
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of JDZJ Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.
