產品詳情
惠普：高精度半導體參數分析儀
產品簡介
惠普4156B（后歸屬安捷倫/是德科技）是一款高精度半導體參數分析儀，專為半導體器件開發、測試和故障分析設計。它采用基于PC的測試系統，集成Windows XP操作系統和Agilent I/CV 3.0 Lite自動化測試軟件，支持電流-電壓（I-V）和電容-電壓（C-V）測量。核心功能包括1 fA超低電流分辨率和0.2 μV電壓精度，適用于亞微米級器件表征、材料評估及可靠性測試，廣泛用于半導體研發、制造和質量控制領域。
產品特點
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超高精度測量
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電流測量范圍達 1 fA至1 A（偏移精度20 fA），電壓范圍 1 μV至200 V，支持準靜態C-V測試（電容范圍0.1–1999 pF），能精準捕捉微弱泄漏電流和材料特性。
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模塊化硬件設計
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內置 4個高分辨率源/監控單元（SMU）、2個電壓源單元（VSU） 和 2個電壓監控單元（VMU），可擴展至6個SMU（通過41501B擴展單元），支持全Kelvin連接以消除導線電阻誤差。
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高效測試與自動化
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提供直流/脈沖雙模式掃描，集成高壓脈沖發生器（±40 V） 和時域測量功能（60 μs間隔，10,001點）；支持旋鈕掃描快速驗證探針接觸，內置HP Instrument BASIC腳本和SCPI命令，可實現全自動測試系統。
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用戶友好分析
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圖形化界面支持參數自動提取（如hFE、Vth），數據可疊加顯示并存為HP-GL/PCL格式；支持GPIB/LAN/打印機輸出，便于集成到第三方軟件。
深圳市寶安區沙井方豐瑞儀器設備經營部
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