產(chǎn)品詳情
印刷機(jī) abb馬達(dá)調(diào)速器維修成功率高在MOS管打開的情況下打開輸入時(shí),在輸出肖特基二極管()上加上的電壓和MOS管的硬擊穿會(huì)導(dǎo)致二極管擊穿。添加RC緩沖電路后,肖特基二極管上的電壓VD=VO+IOxR3。MOS管2SK792的打開時(shí)間為55ns,肖特基二極管SB540的反向耐壓為60V,輸出VO為5V,大電流為3A。因此,大緩沖電路的等效電阻為18.33Ω和()。當(dāng)R為18Ω且C為560pF時(shí),等效串聯(lián)電阻為18.06Ω。?輸出電路設(shè)計(jì)整流是通過(guò)輸出部分通過(guò)肖特基二極管來(lái)實(shí)現(xiàn)的,并且濾波會(huì)應(yīng)用低ESR的電容器,而等效ESR會(huì)降低輸出,如圖6所示。通過(guò)R5和R12差分電壓獲得輸出采樣電路,并且參考TL431輸出端電流1.5μA確定R12的值。
印刷機(jī) abb馬達(dá)調(diào)速器維修成功率高
1、電機(jī)過(guò)溫故障
直流調(diào)速器未檢測(cè)到所連接電機(jī)的電機(jī)熱量
檢查電機(jī)溫度是否過(guò)熱
確保電機(jī)熱量在直流調(diào)速器上正確終止
2、接地故障
檢查從 直流調(diào)速器 到電機(jī)的接線是否有可能的刻痕或裸線接觸地面
檢查電機(jī)是否可能漏電(*在使用絕緣測(cè)試儀或兆歐表檢查之前將電機(jī)與 直流調(diào)速器 斷開)
3、電機(jī)過(guò)載故障
*直流調(diào)速器 可能會(huì)在出現(xiàn)此故障之前短暫運(yùn)行,因?yàn)樗ǔJ怯梢欢螘r(shí)間內(nèi)的電流過(guò)大引起的
檢查電機(jī)和連接的負(fù)載是否存在問(wèn)題
確保 直流調(diào)速器 的尺寸和配置(電機(jī)參數(shù))適用于正在運(yùn)行的電機(jī)
4、外部故障
此故障通常是指到它正在監(jiān)控的直流調(diào)速器的外部連接
檢查連接到 直流調(diào)速器 外部故障輸入的外部電路
同樣,高頻電流也是分鐘流經(jīng)低阻抗的路徑。因此,對(duì)于接地面以上的標(biāo)準(zhǔn)直流調(diào)速器引線,返回電流會(huì)嘗試在引線正下方流入接地區(qū)域。之后,分開的接地區(qū)域會(huì)引起各種噪聲,這會(huì)通過(guò)磁場(chǎng)耦合或電流累積進(jìn)一步增加串?dāng)_。因此,應(yīng)盡可能確保接地完整性,否則返回電流會(huì)引起串?dāng)_。另外,通常將填充接地(也稱為保護(hù)線)用于電路設(shè)計(jì)。該電路包含難以布置連續(xù)接地或需要屏蔽電路的區(qū)域。通過(guò)孔的接地可以位于電線的端子處或沿著電線,以增加屏蔽效果。保護(hù)線不能與設(shè)計(jì)用于提供返回電流路徑的引線混合使用,這會(huì)導(dǎo)致串?dāng)_。如果銅線區(qū)域未接地或未在一個(gè)端子處接地,則其有效性將降低。在某些情況下,將在環(huán)境阻抗改變或電路之間形成電勢(shì)路徑的情況下產(chǎn)生寄生電容。

如果懷疑您的 直流調(diào)速器 有缺陷,我們隨時(shí)為您提供幫助!請(qǐng)撥打電話聯(lián)系我們,讓我們知道您遇到的問(wèn)題。自 2005年以來(lái),我們一直在維修 直流調(diào)速器 和其他工業(yè)設(shè)備,因此我們擁有幫助您的設(shè)備快速恢復(fù)生產(chǎn)的經(jīng)驗(yàn)。
印刷機(jī) abb馬達(dá)調(diào)速器維修成功率高升高的組裝(和返工)溫度降低了互連結(jié)構(gòu)的可靠性,并增加了微孔和材料故障的風(fēng)險(xiǎn)。本文探討了微通孔如何響應(yīng)組裝和終使用環(huán)境的熱偏移而失效。了對(duì)FR4和聚酰亞胺基材進(jìn)行不同的高溫測(cè)試的邏輯。還將涉及顯微切片技術(shù),以提高顯微分析的敏銳度。解決的故障模式包括微孔底部與目標(biāo)焊盤之間的分離,桶形裂紋,拐角裂紋,微孔頂部和捕獲焊盤頂部周圍的圓周裂紋以及微孔配準(zhǔn)不良。測(cè)試方法–使用經(jīng)過(guò)改進(jìn)的方法,通過(guò)互連應(yīng)力測(cè)試(IST)進(jìn)行微孔測(cè)試。該方法記錄在IPC測(cè)試方法手冊(cè)TM650,方法2.6.26,標(biāo)題為“直流電流感應(yīng)熱循環(huán)測(cè)試”中。FR4的微通孔可靠性測(cè)試修改了記錄的測(cè)試方法,規(guī)定的溫度從默認(rèn)的150°C升高到190°C。xdfhjdswefrjhds






