產(chǎn)品詳情
HALTECH手持式測(cè)徑儀維修電話盡管PCB的制造和組裝包含許多環(huán)節(jié),應(yīng)一一仔細(xì)檢查,但過(guò)程主要集中在產(chǎn)品,功能和服務(wù)上。因此,本文遵循相同的路線。產(chǎn)品展示印刷儀器電路板的質(zhì)量將直接影響終產(chǎn)品的應(yīng)用和性能。因此,評(píng)估PCB房屋的優(yōu)先原則是檢查其房屋狀況,這可以從三個(gè)方面進(jìn)行擴(kuò)展:質(zhì)量,行業(yè)和成本。1)。質(zhì)量每個(gè)人都渴望從以下幾個(gè)方面獲??得高質(zhì)量:?在PCB制造過(guò)程中是否已采用SPC(例如,組件的Cpk控制或制造管理圖)??是否實(shí)施了持續(xù)的質(zhì)量管理改進(jìn)措施,例如QCC或TQM;?是否應(yīng)用ECO管理(工程變更單);?是否在其條款和條件中發(fā)布了組件豁免控制原則;?它們是否符合嚴(yán)格的質(zhì)量控制評(píng)估,包括材料檢驗(yàn)記錄和管理,SMT合格率。
HALTECH手持式測(cè)徑儀維修電話
1、流量讀數(shù)不準(zhǔn)確的故障排除
不可避免地,流量計(jì)在初次安裝或長(zhǎng)期使用后可能無(wú)法給出準(zhǔn)確的讀數(shù)。在花費(fèi)時(shí)間和金錢(qián)將設(shè)備送回維修或致電技術(shù)人員尋求幫助之前,進(jìn)行一些仔細(xì)的分析可能會(huì)快速解決一個(gè)簡(jiǎn)單的問(wèn)題。造成讀數(shù)不準(zhǔn)確的原因有很多。流量計(jì)信號(hào)的縮放可能會(huì)關(guān)閉,測(cè)量的流體可能不適合流量計(jì),或者可能與初始應(yīng)用相比發(fā)生了變化,或者長(zhǎng)期使用可能會(huì)導(dǎo)致一些磨損,從而影響流量計(jì)的性能。
對(duì)于大多數(shù)流量計(jì),需要應(yīng)用比例因子,就像語(yǔ)言翻譯器一樣,將來(lái)自流量計(jì)的無(wú)意義信號(hào)轉(zhuǎn)換為可用的流量讀數(shù)。正排量流量計(jì)和渦輪流量計(jì)以脈沖形式輸出信號(hào)。如果沒(méi)有比例因子,用戶將不知道每個(gè)脈沖代表多少體積。其他儀表技術(shù),例如科里奧利和超聲波,使用時(shí)間作為其基本信號(hào),同樣,如果沒(méi)有比例因子,這對(duì)用戶來(lái)說(shuō)毫無(wú)意義。
基于將原始信號(hào)轉(zhuǎn)換為有意義的流量值的比例因子,用戶對(duì)任何流量計(jì)的精度都具有重要的作用和影響。輸入錯(cuò)誤的值可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。然而,這并不意味著儀表有缺陷。
分析圖FE模型的詳細(xì)信息創(chuàng)建了詳細(xì)的有限元(FE)模型來(lái)表示[實(shí)驗(yàn)"部分中描述的設(shè)置,目的是復(fù)制實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)對(duì)組成熱特性的理解,圖2顯示了使用商業(yè)軟件[3]執(zhí)行的有限元建模的細(xì)節(jié),應(yīng)用材料特性,并將熱負(fù)荷建模為電阻器區(qū)域上的均勻熱通量。。 但它們尚未起作用,相反,它們慣于負(fù)擔(dān)得起的:演示評(píng)論修改該模型可以像圖紙一樣簡(jiǎn)單,也可以像實(shí)際的物理原型一樣復(fù)雜,無(wú)論哪種方式,視覺(jué)模型都可以幫助:澄清設(shè)計(jì)問(wèn)題驗(yàn)證生產(chǎn)可行性確保設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)在同一頁(yè)面上前進(jìn)2.概念(原理)原型這種原型制作形式使您更有可能您的PCB設(shè)計(jì)概念將在現(xiàn)實(shí)生活中切實(shí)可。。

2、解決流量計(jì)問(wèn)題
讓我們看一下輸出不準(zhǔn)確流量讀數(shù)的儀表的實(shí)際應(yīng)用,以及關(guān)注儀表的可重復(fù)性如何幫助解決問(wèn)題。
用于測(cè)量小量、快速噴射分配的乳液的正排量流量計(jì)無(wú)法提供準(zhǔn)確的流量輸出。流量計(jì)的信號(hào)源自連接到監(jiān)控分配量的可編程邏輯控制器 (PLC) 的脈沖輸出傳感器,其錯(cuò)誤指示限值設(shè)置為目標(biāo)分配體積的 +/-2.5%。
在這個(gè)新系統(tǒng)安裝中,最終用戶將提供的流量計(jì)比例因子輸入 PLC 中,并在開(kāi)始生產(chǎn)運(yùn)行之前運(yùn)行一些測(cè)試以確定系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。即使用戶花時(shí)間確保系統(tǒng)組件設(shè)置正確,它仍然會(huì)立即出錯(cuò)。
在向量筒中進(jìn)行體積驗(yàn)證注射后,操作員確定流量計(jì)沒(méi)有給出正確的流量指示。為了找出問(wèn)題所在,用戶聯(lián)系了OEM。在要求客戶進(jìn)行一些基本的故障排除后,OEM 要求提供驗(yàn)證數(shù)據(jù)的副本,以了解儀表的不準(zhǔn)確性能。
40mm風(fēng)扇并不理想,例如,讓我們考慮一個(gè)40x40x28mm尺寸的風(fēng)扇[9],在15.5CFM(0.447m3/min)的情況下以9500rpm的速度打開(kāi)流量,關(guān)閉壓力為0.509in,H2O,這代表了價(jià)格適中的軸流風(fēng)扇性能的新技術(shù)。。 它們可用于解決各種工業(yè)和家用設(shè)備中的電氣問(wèn)題,例如電子設(shè)備,電機(jī)控制,家用電器,電源和布線系統(tǒng),4數(shù)字萬(wàn)用表(DMM,DVOM)以數(shù)字顯示測(cè)量值,這消除了視差誤差,并可能顯示與測(cè)量的量成比例的長(zhǎng)度條,現(xiàn)代萬(wàn)用表由于其準(zhǔn)確性。。
大氣腐蝕的機(jī)理[59]大氣腐蝕的機(jī)理如6所示,為簡(jiǎn)單起見(jiàn),該表面被視為“理論上”的清潔表面。大氣腐蝕的機(jī)理[59]大氣腐蝕的機(jī)理如6所示,為簡(jiǎn)單起見(jiàn),該表面被視為“理論上”的清潔表面。大氣腐蝕的機(jī)理[59]在接中性的電解質(zhì)溶液中進(jìn)行大氣腐蝕,有可能發(fā)生以下氧還原反應(yīng):O2+2H2O+4e-↙4OH-研究表明,大氣總腐蝕速率不受陰極氧還原過(guò)程的控制,而是通過(guò)陽(yáng)極反應(yīng)[60]。陽(yáng)極半電池過(guò)程在簡(jiǎn)化的氧化反應(yīng)中顯示如下:M↙Mn++ne-34腐蝕產(chǎn)物(金屬氧化物和氫氧化物)的形成,腐蝕產(chǎn)物在表面電解質(zhì)中的溶解度以及鈍化的形成薄膜會(huì)影響陽(yáng)極金屬溶解過(guò)程的總體速率,并導(dǎo)致與假設(shè)活化控制的簡(jiǎn)單速率方程式產(chǎn)生偏差。
因此查看技術(shù)提示數(shù)據(jù)庫(kù)可快速識(shí)別您的問(wèn)題和解決方案,在這種情況下,您可以大大簡(jiǎn)化故障排除過(guò)程,或者至少在訂購(gòu)零件之前確認(rèn)診斷,對(duì)于技術(shù)提示數(shù)據(jù)庫(kù),我的保留意見(jiàn)-與任何人都沒(méi)有關(guān)系-有時(shí)癥狀可能會(huì)欺。。 您的示波器可能正在拾取干擾,從而淹沒(méi)了正在搜索的低電信號(hào)(電視機(jī)和顯示器,或VCR和CD播放器中的低電電路),由于噪聲或信號(hào)形狀不理想,您的頻率計(jì)數(shù)器可能會(huì)被雙重觸發(fā),意識(shí)到巧合確實(shí)發(fā)生了,但相對(duì)很少見(jiàn)。。 當(dāng)前狀態(tài)(3/2017):設(shè)計(jì)和工藝條件,以逐案確定可能適用修改的預(yù)處理?xiàng)l件的情況,2.對(duì)行業(yè)和NASA技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的貢獻(xiàn)當(dāng)工作組汲取的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)或建議具有在所有NASA項(xiàng)目中降低系統(tǒng)風(fēng)險(xiǎn)的強(qiáng)大潛力時(shí),工作組將以設(shè)計(jì)規(guī)則。。
因此模擬部分對(duì)干擾非常。如果不進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶??理,數(shù)字信號(hào)將趨向于干擾模擬信號(hào),從而發(fā)生EMI問(wèn)題。設(shè)計(jì)人員應(yīng)遵循的正確原則是:首先,應(yīng)在PCB上用混合信號(hào)將數(shù)字地和模擬地分開(kāi);其次,將模擬和數(shù)字電子元件分類(lèi)為在模擬區(qū)域中分布的模擬地和在數(shù)字區(qū)域中分布的數(shù)字地。第三,模擬地和數(shù)字地與圍繞區(qū)域分割的磁珠相連。這些措施能夠?qū)崿F(xiàn)數(shù)字地與模擬地之間的。SDRAM用于數(shù)據(jù)累積系統(tǒng),該手冊(cè)明確指出與FPGA連接的數(shù)據(jù)線必須配置50Ω的阻抗匹配,以確保高速傳輸,如圖3所示。手冊(cè)要求的阻抗匹配|手推車(chē)FPGA將累積的數(shù)據(jù)寫(xiě)入SDRAM之后,必須不斷執(zhí)行刷新以保持?jǐn)?shù)據(jù),并且每行的刷新周期必須快于64毫秒。PolarSi9000軟件的阻抗匹配步驟顯示如下:一種。
HALTECH手持式測(cè)徑儀維修電話電勢(shì)與飽和甘汞電極相對(duì)。Cu腐蝕產(chǎn)物主要由Cu2S和少量的Cu2O和CuO組成。在圖(a)中,未知腐蝕產(chǎn)物在400-500mV處的穩(wěn)狀態(tài);?720mV的穩(wěn)期對(duì)應(yīng)于?25nmCu2O;?850mV處的穩(wěn)期對(duì)應(yīng)于?90nmCuO;而在?1170mV處的穩(wěn)期對(duì)顯示了與圖(a)相同的曲線圖,不同之處在于其持續(xù)時(shí)間為30k秒,以包括?1170mV的完整Cu2S穩(wěn)期。在圖(c)中,?810mV處的穩(wěn)期相當(dāng)于?55nmAg2S。圖文本中描述了測(cè)試板上的編號(hào)區(qū)域。半透明的藍(lán)框區(qū)域是被焊錫波掩蓋的區(qū)域。在階段,iNEMI團(tuán)隊(duì)討論了蠕變腐蝕失效機(jī)理,緩解方法,預(yù)測(cè)蠕變腐蝕和現(xiàn)場(chǎng)壽命以及環(huán)境監(jiān)控的產(chǎn)品測(cè)試方法。正在進(jìn)行的第3階段的目的是了解已經(jīng)確定的促成因素的性。 kjgsdegewrlkve







