產品詳情
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s8030系列 ◆ 單軌高速三維錫膏檢測系統 ◆ PSLM PMP 可編程相位輪廓調制測量技術 ◆ 檢測項目:體積,面積,高度,XY偏移,形狀 ◆ 檢測不良類型:漏印,多錫,少錫,連錫,偏移,形狀不良 ◆ 最小檢測元件:01005(英制) ◆ XY定位精度:1um Grating ruler ◆ 重復性精度:高度<1um(4sigma);面積/體積<<1%(4sigma) ◆ 460x460mm 檢測面積 ◆ 超高幀數高精度工業相機 ◆ 檢測速度:0.3秒/FOV ◆ Mark點識別:0.5秒/個 ◆ 最大檢測高度:+/-550um (+/-1200um為選件) ◆ RGB Tune專利技術 ◆ D-Lighting專利技術 ◆ 動態仿形功能配合靜態防翹曲功能 ◆ 條碼識別功能配合三點照合功能 ◆ 印刷機全閉環控制功能 ◆ 貼片機Badmark傳輸功能 ◆ 接入IMS系統功能 ◆ 操作系統:Windows 7 Professional (64 bit) ◆ 五分鐘編程,一鍵式操作 ◆ SPC過程工藝控制 |


