產品詳情
可對應300mm硅片的邊緣、表面、背面的缺陷檢測復合機。
【邊緣檢測】:對硅片外周(Bevel)進行非接觸式高速檢測。 畫像處理根據預先設定的參數條件自動提取各種缺陷,并判定是否合格。
【正面·背面檢測】:當線性光照射硅片時,正反射光與入射角相同的角度反射。如果硅片表面凹凸不平,光就會散射并出現多個角度的反射光。通過接收向上的散射光來檢測硅片上的凹凸缺陷。
【檢測對象】:8~12寸 拋光片&外延片
【菜單功能】:可編輯檢測菜單,并進行參數保存與導出
【生產能力】:根據缺陷種類不同每片檢測最快只需 60S。
【缺陷種類】:劃痕 ,顆粒,Cloud,GM ,E to E ,Haze-Discolored ,Pin mark ,Halo ,Susceptor Scratch
※針對部分缺陷進行OK/NG判定
【檢測范圍】:邊緣,表面,背面


