功能：1.既能測量單端口網絡或兩端口網絡的各種參數幅值，又能測相位，矢量網絡分析儀能用史密斯圓圖顯示測試數據。2.可以測試電磁屏蔽和吸波性能。3.電磁屏蔽計算主要用S參數，吸波效率計算用電磁參數。

1，粉末樣品至少200mg（不需要提供石蠟）；

2，塊體樣品測試同軸法，樣品尺寸精度要求很高，內徑3.04，外徑7mm；厚度：不限，一般統一選擇（ 2±0.040 mm）；

3，塊體樣品測試波導法，不同范圍對應不同尺寸，要求樣品表面盡量平整光滑、無彎曲。樣品尺寸：標準尺寸或者長寬尺寸偏大2-3mm，樣品厚度：不限，微米級別-20mm都可以，對于厚度小于0.5mm的薄膜，由于較脆弱，制樣不易，盡量大小要提供比標準尺寸大一些，以免出現漏磁，造成數據偏差。

標準尺寸具體如下（寬*長）：

1.13-1.73GHz：82.4*164.8 mm

1.72-2.61 GHz：54.46*108.92 mm

2.60-3.95 GHz：33.89*71.84 mm

3.94-5.99 GHz：22.0*47.25 mm

5.38-8.17 GHz：15.75*34.70 mm

8.2-12.4GHz：22.9*10.2mm

12.4-18.0GHz：15.9*8.03mm

18.0-26.5GHz：10.95*4.5mm

26.0-40.0GHz：7.15*3.60mm；

4，塊體樣品測試弓形法，要求 180*180mm，300*300mm，兩個尺寸中的一種（直接測吸波效率的，測不了電磁參數）。

5，SPDR 接受塊體樣品，測試需要厚薄均勻，介電常數＞20，

尺寸具體如下（長寬/直徑范圍，厚度）：

1G：110-190mm，3mm

2.5G：60-120mm，3mm

3G：50-120mm，3mm

5G：50-100mm，1.6mm

10G：30-100mm，1mm

15G：20-100mm，0.5mm

20G：20-40mm，0.5mm

28G：20-40mm，0.5mm

39G：20-40mm，0.5mm

6，準光腔：測試需要厚薄均勻，介電常數＞20，長＞40mm,寬＞40mm，厚度＜1mm

7，導電性太好的樣品建議測試屏蔽效能，測試電磁參數可能會有異常，請慎重選擇！

1. 薄膜樣品是否可以測試？

根據頻率確定測試方法，但是鑒于薄膜樣品的情況，一般適合用波導法測試，厚度要求不是很嚴格，需要自己測量好薄膜的厚度。

2. 粉末測試時，和石蠟的摻雜比怎么確定？

這個根據自己的樣品成分，參考文獻來確認。不同樣品合適的摻雜比例不同。一般測試時，也很難做到一個摻雜比例就可以得到比較好的測試結果，可能需要根據一個比例的測試結果，來調整摻雜比例，以獲取更優的測試結果。但是一般樣品的比例太高的話，不一定能制成同軸環，所以可能制樣不成功，無法測試。

3. 為什么有的介電常數是負值？

一般可能是因為試樣的濃度太高了（即和石蠟摻雜時，樣品的比例太高），基本上快成導體了，已經形成導電通道了，介電數據異常了，不過可以看S參數計算屏蔽效能。這時候材料就只有屏蔽效果了，沒有吸波性能了，和金屬板差不多了，超過預設閾值了，有導電通道了，不適合這個儀器測試范圍了。這種情況，一般建議調整降低樣品的比例。