產品詳情
CCS-OPTIMA+點光譜優勢:
1,高分辨率,最高可達納米級。
2,高精度,最高可達16納米。
3,同軸光測量,相比較三角反射測量,無測量盲區。
4,可以測量幾乎所有材料的表面,不論是漫反射表面,或者是高光亮面,或者是透明物體表面。
5,物體表面的顏色對于測量結果沒有任何影響,可以解決對于激光難以測量的黑色或者白色物體。6,可以同時測量多層玻璃或者膠的厚度。
7,測量頻率可達10KHZ.
特別在高光面和玻璃檢測行業具有得天獨厚的優勢!

晶圓的分析


| 詳細參數 | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 法國STIL | 型號 | CCS-OPTIMA |
| 用途類型 | 白光共焦位移傳感器 | 工作原理 | 光譜共焦 |
| 輸出信號 | 模擬型,開關型,數字型 | 材質 | 鋁合金 |
| 位移特征 | 位移測量 | 測量范圍 | 42mm內 |
| 類型 | 固定式 | 產地 | 法國 |
CCS-OPTIMA+點光譜優勢:
1,高分辨率,最高可達納米級。
2,高精度,最高可達16納米。
3,同軸光測量,相比較三角反射測量,無測量盲區。
4,可以測量幾乎所有材料的表面,不論是漫反射表面,或者是高光亮面,或者是透明物體表面。
5,物體表面的顏色對于測量結果沒有任何影響,可以解決對于激光難以測量的黑色或者白色物體。6,可以同時測量多層玻璃或者膠的厚度。
7,測量頻率可達10KHZ.
特別在高光面和玻璃檢測行業具有得天獨厚的優勢!

晶圓的分析


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